Hệ thống máy soi chiếu đạt chuẩn Thiết Bị Công Nghệ Cao (AT) của Cục An Ninh Vận Tải Mỹ, chuẩn Hệ thống máy soi phát hiện chất nổ lỏng (LEDS) của Châu Âu và được chứng nhận bởi Cục Hàng Không Dân Dụng Trung Quốc (CAAC).
Hiệu quả soi chiếu cao
Công nghệ soi chiếu kép
Tự động phát hiện chất nổ lỏng và rắn, ma túy
Đáp ứng các tiêu chuẩn toàn cầu
Máy soi Rapiscan 620DV là một giải pháp hữu hiệu trong lĩnh vực soi chiếu, hệ thống máy soi này được thiết kế cho hàng không và các điểm kiểm soát cần độ bảo mật cao. Rapiscan 620DV sử dụng công nghệ soi chiếu kép nên có thể đưa ra hai góc nhìn thẳng đứng và bên cạnh của vật thể trong quá trình kiểm tra.
Máy soi Rapiscan 620DV được chấp thuận và đạt tiêu chuẩn Thiết Bị Công Nghệ Cao (AT) của Cục An Ninh VậnTải Mỹ ( TSA), Chứng nhận hệ thống soi chiếu đạt chuẩn Châu Âu ECAC, Chuẩn Hệ Thống Dò Tìm Chất Nổ lỏng (LEDS), thiết bị an ninh đạt chuẩn Quy Trình Đánh Giá Phổ Thông ( CEP).
Hệ thống máy soi Rapiscan 620DV cung cấp chất lượng hình ảnh vượt trội, đạt chứng nhận toàn cầu ở mức cao nhất với hệ thống phần mềm tự động dò tìm chất nổ (TargetTM) và phần mềm tự động xác định các loại chất nổ lỏng (aLEXisTM).
Tự động phát hiện chất nổ:
Target ™ tự động phát hiện một loạt các vật liệu nổ theo thời gian thực trong quá trình soi chiểu bằng cách làm nổi bật khả năng vật khả nghi trên hình ảnh X-quang.
Tự động phát hiện ma túy:
NARCScan ™ tự động phát hiện một loạt các chất ma tuý theo thời gian thực trong quá trình quét bằng cách làm nổi bật một mối đe dọa tiềm năng trên hình ảnh X-quang.
Đáp ứng hầu hết các yêu cầu nghiêm ngặt của toàn cầu hiện nay.
Rapiscan 620DV đáp ứng các yêu cầu về phát hiện khắt khe nhất và yêu cầu về chất lượng hình ảnh theo quy định của Cục An ninh Vận tải Mỹ (TSA), Bộ giao thông vận tải Anh ( DFT) , Cục Hàng Không Dân Dụng Pháp, Châu Âu (STAC), Cục Hàng Không Dân Dụng Trung Quốc (CAAC), và Bộ giao thông vận tải Canada ( TC).
Các chức năng hỗ trợ người vận hành lớn nhất cho phép nâng cao khả năng thông quan.
Với hơn 13 công cụ xử lý hình ảnh và nhiều chức năng phát hiện tự động, phần mềm có tính năng phong phú giúp các nhà vận hành phát hiện hàng lậu dễ dàng và chính xác cho khả năng thông quan cao nhất và giảm thiểu mệt mỏi.
Tuân thủ quy định:
Rapiscan 620DV có hiệu suất chất lượng hình ảnh phù hợp với quy định (EC) số 300/2008. Ngoài ra, chức năng chèn hình ảnh nguy hiểm (TIP) là phù hợp với quy định (EU) số 185/2010.
Công nghệ soi chiếu kép vượt trội.
Chính phủ cũng như Cục An ninh Vận tải Mỹ (TSA) yêu cầu cần có công nghệ soi chiếu kép. Hệ thống soi chiếu kép của rapiscan có thể cung cấp hai ảnh riêng biệt từ hai hướng vuông góc , do vậy cung cấp được một hình ảnh toàn diện mà không cần phải thay đổi chiều và soi chiếu lại, do đó tăng tốc độ, độ chính xác và toàn diện khi soi chiếu các đối tượng nguy hiểm.
Thông số kỹ thuật:
Kích thước: Chiều dài: 2,880mm. Cao: 1,418mm. Rộng: 1430mm
Kích thước khoang soi kiểm tra (Tunnel): Rộng: 640mm, Cao: 430mm.
Tốc độ băng tải: 0.2 m/s.
Tải trọng tối đa của băng tải: 165kg khi tải cân bằng đều
Chiều cao băng tải: 826mm
Trọng lượng: toàn bộ: 1000Kg
Nguồn hệ thống: 115/230 VAC ± 10%, 60/50Hz
Đầu phát X-quang tiêu chuẩn và chất lượng hình ảnh
Độ đâm xuyên thép: 35mm thực tế, 40mm điển hình
Độ phân giải dây: 38 AWG thực tế, 40 AWG điển hình,
Phân biệt vật chất: Z thấp, Z trung bình, Z cao chính xác đến 0.5 Z.
Làm mát đầu phát: bằng bình dầu kín và quạt gió.
Điện áp của cực Anode: hoạt động ở công suất 160kV
Dòng anode: 1.0 mA lý thuyết.
Hướng đầu phát: theo đường chéo từ trên xuống và chiếu ngang.
Môi trường hoạt động
Nhiệt độ bảo quản: -200C to 500C
Nhiệt độ hoạt động: 00C tới 400C
Độ ẩm tương đối: 5 to 95% không ngưng tụ.
Sức khỏe và an toàn
Sản phẩm máy soi có khoang soi Rapiscan Systems tuân thủ tất cả các áp dụng của FDA Hoa Kỳ và yêu cầu của cơ quan quản lý quốc tế tương đương, bao gồm tiêu chuẩn an toàn bức xạ bên trong khoang soi X-quang [21 CFR 1020.40] và các tiêu chuẩn hiệu suất chung [21 CFR Phần 1010]. Rapiscan Systems xác nhận mỗi sản phẩm X-quang có khoang soi có tối đa lượng rò rỉ phóng xạ dưới 1 μSv/giờ (0,1 mR/hr) từ tất cả các bề mặt bên ngoài của hệ thống khoang soi X-quang.
